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射频综合测试仪MDR-T8200-P-G

此款射频综合测试仪，用于智能卡、RFID标签，低频/高频谐振频率检测，便携式测试装置，轻松地实现谐振频率、Q值、频宽等检测

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此款射频综合测试仪，用于智能卡、RFID标签，低频/高频谐振频率检测，便携式测试装置，轻松地实现谐振频率、Q值、频宽等检测。

射频综合测试仪检测功能介绍：
• 智能卡、RFID标签的谐振频率等参数检测：有些智能卡或RFID标签的谐振频率会随着射频功率的变化而改变。该设备可将射频功率设置在-30dBm至15dBm范围
内，并且可在高射频功率下确定谐振特性，使安装在卡或RFID标签上的芯片能够进行通信
• UID追踪与管理：使用UID进行可跟踪管理（检查日志保存为CSV格式的文本文件）

射频综合测试仪应用范围：
1、智能卡、RFID标签的谐振频率检测
      • 判断测量结果是否通过
      • 自动生成检查日志文件
      • 读取芯片UID内码
      • 可调射频功率达到15dBm
      • 芯片绑定前可对射频天线检测

2、RFID读写器天线的谐振频率检测
• 检查电容器失效的共振频率

3、无线电源供应的自谐振频率检测

射频综合测试仪产品参数：
      • 测量方法：磁场耦合测量方法
      • 测量内容：传输电压和反射电压的振幅
      • 检测项目：谐振频率、衰减、Q值、UID读取
      • 支持协议：ISO14443A (MIFARE Classic, MIFARE Ultralight)；ISO14443 B(仅 PUPI), FEliCa；ISO15693 (Tag -it HF - I Plus/Pro, ICODE SLIX2)
      • 测量点数：100～2048点
      • 检测时间（高频频段测量点数=1000）：谐振频率检测：0.5秒；谐振频率和ID读取：1秒（检测时间取决于PC端的设置、机器检测内容的设置、检测对象特性等）
      • 检测结果检测波形保存功能：检测日志文件(csv格式文本文件)；UID, PASS / FAIL、谐振频率、衰减、Q值；波形数据:.csv, .jpg文件
      • 频率设置范围：10 KHz～100 MHz
      • 可调的射频功率(@50Ωload)：－30～+15 dBm
      • DIO 电路类型：隔离I/O
      • 支持系统：PC(OS) Windows7, Windows8.1, Windows10；USB 2.0 或更高
      • 电源：USB 总电源(小号电流500毫安或以下)
      • 装箱清单：主机、USB接口线、同轴电缆(2根)、高频标准卡尺寸测试治具及可选的不同尺寸规格的测试天线板、安装驱动盘
      • 尺寸：125(W)x165(D)x40(H)(不包括测试治具)；
      • 重量：0.8kg